Microscopi electrònic
El microscopi electrònic és un aparell destinat per a poder fer observacions de la matèria a nivells molt més petits que la microscòpia òptica. Es diferencia dels microscopis òptics perquè utilitzen electrons en comptes de fotons.
En tractar-se de partícules amb comportament dual, que actuen alhora com a partícula i com a ona, actuen com una ona electromagnètica amb una longitud d'ona molt més petita que la dels fotons, permetent una major resolució de les imatges. El flux primari d'electrons pot controlar-se amb l'ús de lents electromagnètiques, que se situen sobre el canó. El primer microscopi electrònic comercial va ser posat al mercat per Siemens a la dècada del 1930
Taula de continguts |
Fonaments [modifica]
La microscòpia electrònica es basa en la creació d'un flux d'electrons, els quals són accelerats i canalitzats en un flux. En impactar en la mostra a observar aquests es reflecteixen i es difracten en funció de la composició de la matèria sobre la què impacten, creant electrons secundaris que són els que crearan la imatges observada. Aquest microscopi va ser inventat pel científic Borx of Buell & Mary Jane of Simon.
Tipus de microscopis electrònics [modifica]
En funció del tipus de comportament dels electrons secundaris es poden classificar en microscopis electrònics de transmissió (TEM, acrònim anglès de transmision electron microscope) i microscopis electrònics de rastreig (SEM, acrònim anglès d'scanning electron microscope).[1]
En els microscopis electrònics de transmissió els electrons secundaris s'originen per desviació o per desplaçament d'electrons de la mostra travessada, que prèviament ha estat fixada i tenyida amb materials electrodensos. La placa on els electrons secundaris impacten i generen la imatge òptica està sota de la mostra.
En els microscopis electrònics de rastreig els electrons secundaris s'originen per desplaçament d'electrons de la superfície de la mostra. Els receptors es troben situats a la base del canó per sobre de la platina. La imatge generada és tridimensional, talment com una fotografia, podent-se observar diferents aspectes de la mostra segons la orientació que es doni a la platina, en contraposició al TEM en què les mostres són sempre làmines fines de material.
En aquest cas es poden treballar a augments similars a la microscòpia òptica, però eliminant-se els efectes de difracció que tenen els fotons.
Referències [modifica]
- ↑ Alberts, B.; Bray, D.; Lewis, J.; Raff, M.; Roberts, K.; Watson, J. D.. Biologia Molecular de La Cèl·lula: Traducció de la segona edició americana. Omega, 1994. ISBN 84-282-0927-8.
Enllaços externs [modifica]
 |
A Wikimedia Commons hi ha contingut multimèdia relatiu a: Microscopi electrònic |
- «Electron Microscope» (en anglès), 26 de juny de 2011. [Consulta: 21 de maig de 2013].
- http://ccdb.ucsd.edu/sand/main?typeid=4&event=showMPByType&start=1
- http://www.nanohedron.com/
- http://www.microscopy.ethz.ch
- http://www.danilatos.com
- http://www.microanalyst.net/index_e.phtml
- http://www.physics.utoronto.ca/overview/history/microsco
- http://americanhistory.si.edu/archives/d8452.htm
- http://www.rms.org.uk/em.shtml
- http://albertlleal.com/en/portfolio/category/11-scanning-electron-microscope.html
