English: This is a simple sketch of the beam path of the electrons in a TEM after the illumination system. A Parallel beam of electrons enters the speciemen and are scattered in varius directions. The objective lens is used to collect all scattered beams originating from the same point on the sample in one point in the image plane (bottom). Note also that in the back focal plane (marked 'diffraction pattern') electrons originating at different point on the sample, but scattered in the same direction, are collected. Observing the electrons in this plane gives the diffraction pattern, containing information on the angular scattering distribution of the electrons. The diffraction pattern and the image are related through a Fourier transform.
Aquesta imatge (de tipus physics) s'hauria de tornar a crear utilitzant gràfics vectorials com ara un fitxer SVG. Això té diversos avantatges; en trobareu més informació a Commons:Media for cleanup. Si ja disposeu d'una versió d'aquesta imatge en format SVG, us preguem que la pengeu; després, reemplaceu aquesta plantilla amb la plantilla {{Vector version available|nom nou de la imatge.svg}} en aquesta imatge.
Aquesta imatge, o les imatges d'aquest article o categoria, ha estat carregada en format JPEG. Tanmateix, conté informació que es podria emmagatzemar més eficaçment o més acuradament en el format PNG o SVG. Si és possible, us preguem que carregueu una versió PNG o SVG d'aquesta imatge sense algoritmes de compressió, derivada d'una font no JPEG o sense codificació de compressió.
Llicència
Oysteinp from en.wikipedia.org, el titular dels drets d'autor d'aquest treball, el public sota la següent llicència:
compartir – copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra
adaptar – fer-ne obres derivades
Amb les condicions següents:
reconeixement – Heu de donar la informació adequada sobre l'autor, proporcionar un enllaç a la llicència i indicar si s'han realitzat canvis. Podeu fer-ho amb qualsevol mitjà raonable, però de cap manera no suggereixi que l'autor us dóna suport o aprova l'ús que en feu.
compartir igual – Si modifiqueu, transformeu, o generareu amb el material, haureu de distribuir les vostres contribucions sota una llicència similar o una de compatible com l'original
Aquest avís de llicència s'ha afegit a aquest fitxer d'acord amb l'actualització de la llicència GFDL.http://creativecommons.org/licenses/by-sa/3.0/CC BY-SA 3.0Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0truetrue
S'autoritza la còpia, la distribució i la modificació d'aquest document sota els termes de la llicència de documentació lliure GNU versió 1.2 o qualsevol altra versió posterior que publiqui la Free Software Foundation; sense seccions invariants, ni textos de portada, ni textos de contraportada. S'inclou una còpia d'aquesta llicència en la secció titulada GNU Free Documentation License. Subjecte a l'avís legal.http://www.gnu.org/copyleft/fdl.htmlGFDLGNU Free Documentation Licensetruetrue
Registre original de càrregues
La pàgina de descripció original era aquí. Els noms d'usuari a continuació es refereixen a en.wikipedia.
2005-10-20 06:21 Oysteinp 787×653×8 (103055 bytes) This is a simple sketch of the beam path of the electrons in a TEM after the illumination system. A Parallell beam of electrons enters the speciemen and are scattered in varius directions. The objective lens is used to collect all scattered beams originat
Llegendes
Afegeix una explicació d'una línia del que representa aquest fitxer
{{Information |Description={{en|This is a simple sketch of the beam path of the electrons in a TEM after the illumination system. A Parallel beam of electrons enters the speciemen and are scattered in varius directions. The objective lens is used to colle
Aquest fitxer conté informació addicional, probablement afegida per la càmera digital o l'escàner utilitzat per a crear-lo o digitalitzar-lo. Si s'ha modificat posteriorment, alguns detalls poden no reflectir les dades reals del fitxer modificat.