Fitxer:Dry etching test strucutres.jpg

El contingut de la pàgina no s'admet en altres llengües.
De la Viquipèdia, l'enciclopèdia lliure

Fitxer original(4.096 × 3.775 píxels, mida del fitxer: 7,19 Mo, tipus MIME: image/jpeg)

Descripció a Commons

Resum

Descripció
English: SEM picture of Inductively Coupled Plasma - Deep Reactive Ion Etching (ICP-DRIE) in silicon. The picture depicts a test structure that was used to test several process parameters.
Data
Font Treball propi
Autor Mgerlt

Llicència

Jo, el titular dels drets d'autor d'aquest treball, el public sota la següent llicència:
w:ca:Creative Commons
reconeixement
This file is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International license.
Sou lliure de:
  • compartir – copiar, distribuir i comunicar públicament l'obra
  • adaptar – fer-ne obres derivades
Amb les condicions següents:
  • reconeixement – Heu de donar la informació adequada sobre l'autor, proporcionar un enllaç a la llicència i indicar si s'han realitzat canvis. Podeu fer-ho amb qualsevol mitjà raonable, però de cap manera no suggereixi que l'autor us dóna suport o aprova l'ús que en feu.


Llegendes

Afegeix una explicació d'una línia del que representa aquest fitxer
Test structures for dry etching

Historial del fitxer

Cliqueu una data/hora per veure el fitxer tal com era aleshores.

Data/horaMiniaturaDimensionsUsuari/aComentari
actual16:45, 13 des 2019Miniatura per a la versió del 16:45, 13 des 20194.096 × 3.775 (7,19 Mo)MgerltUser created page with UploadWizard

La pàgina següent utilitza aquest fitxer:

Metadades