Microscopi electrònic de rastreig: diferència entre les revisions

De la Viquipèdia, l'enciclopèdia lliure
Contingut suprimit Contingut afegit
m Robot: fr:Microscopie électronique à balayage és un article bo
Cap resum de modificació
Línia 1: Línia 1:
[[Fitxer:JEOL JSM-6340F.jpg|thumb|Microscopi electrònic de rastreig.]]
[[Fitxer:JEOL JSM-6340F.jpg|thumb|Microscopi electrònic de rastreig.]]
[[File:Misc pollen.jpg|thumb|Imatge de grans de [[pol·len]] obtinguda amb un MER. Es pot veure el característic relleu proporcionat per aquest microscopi.]]
El '''microscopi electrònic de rastreig''', d'escandallatge o de scanning<ref>{{GEC|0153730}}</ref> ('''SEM''', de '''Scanning Electron Microscopy'''), és el [[microscopi]] que utilitza [[electrons]] en comptes de [[llum]] per formar una imatge. Va ser inventat el [[1931]] per [[Ernst Ruska]], [[Gerd Binnig]] i [[Heinrich Rohrer]].
El '''microscopi electrònic de rastreig''' o MER (també anomenat d'escombratge o scanning <ref>{{GEC|0153730}}</ref> i SEM de '''Scanning Electron Microscope''' en anglès) és un tipus de microscopi electrònic que proporciona imatges d'una mostra sobre la qual s'envia un feix d'electrons. Aquests interactuen amb la superfície de la mostra, llavors es dispersen arreu, es localitzen mitjançant un detector i es projecten en una pantalla.
==Història==
Va ser inventat el [[1931]] per [[Ernst Ruska]], [[Gerd Binnig]] i [[Heinrich Rohrer]]. La primera imatge amb un MER la va obtenir [[Max Knoll]] qui el 1935 va obtenir una imatge d'acer elèctric. <ref name="knoll">{{cite journal |last=Knoll |first=Max|year=1935 |title=Aufladepotentiel und Sekundäremission elektronenbestrahlter Körper |journal=Zeitschrift für technische Physik |volume=16|pages=467–475}}</ref> Manfred von Ardenne va investigar sobre els principis físics del MER i sobre interaccions de mostres amb feixos d'electrons.<ref>{{cite journal
|last = von Ardenne
|first = Manfred
|year = 1939
|title = Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen
|journal = Zeitschrift für Physik
|volume = 109
|issue = 9–10
|pages = 553–572
|language = German
|doi = 10.1007/BF01341584
|bibcode = 1938ZPhy..109..553V }}</ref> <ref>{{cite journal
|last = von Ardenne
|first = Manfred
|year = 1938
|title = Das Elektronen-Rastermikroskop. Praktische Ausführung
|journal = Zeitschrift für technische Physik
|volume = 19
|pages = 407–416
|language = German
}}</ref> El MER també fou desenvolupat pel professor Sir Charles Oatley i el seu estudiant de postgrau Gary Stewart i fou comercialitzat per primer cop l'any 1965 per Cambridge Scientific Instrument Company amb el nom “Stereoscan”.


Té una gran profunditat de camp, la qual permet que es pugui enfocar simultàniament una gran part de la mostra. També produeix imatges d'alta resolució, el què significa que característiques properes a la mostra poden ser examinades en una alt grau de magnificació.
Té una gran profunditat de camp, la qual permet que es pugui enfocar simultàniament una gran part de la mostra. També produeix imatges d'alta resolució, el què significa que característiques properes a la mostra poden ser examinades en una alt grau de magnificació.

Revisió del 19:29, 24 feb 2012



Microscopi electrònic de rastreig.
Imatge de grans de pol·len obtinguda amb un MER. Es pot veure el característic relleu proporcionat per aquest microscopi.

El microscopi electrònic de rastreig o MER (també anomenat d'escombratge o scanning [1] i SEM de Scanning Electron Microscope en anglès) és un tipus de microscopi electrònic que proporciona imatges d'una mostra sobre la qual s'envia un feix d'electrons. Aquests interactuen amb la superfície de la mostra, llavors es dispersen arreu, es localitzen mitjançant un detector i es projecten en una pantalla.

Història

Va ser inventat el 1931 per Ernst Ruska, Gerd Binnig i Heinrich Rohrer. La primera imatge amb un MER la va obtenir Max Knoll qui el 1935 va obtenir una imatge d'acer elèctric. [2] Manfred von Ardenne va investigar sobre els principis físics del MER i sobre interaccions de mostres amb feixos d'electrons.[3] [4] El MER també fou desenvolupat pel professor Sir Charles Oatley i el seu estudiant de postgrau Gary Stewart i fou comercialitzat per primer cop l'any 1965 per Cambridge Scientific Instrument Company amb el nom “Stereoscan”.

Té una gran profunditat de camp, la qual permet que es pugui enfocar simultàniament una gran part de la mostra. També produeix imatges d'alta resolució, el què significa que característiques properes a la mostra poden ser examinades en una alt grau de magnificació.

La preparació de les mostres és relativament fàcil ja que en la majoria només es necessita que siguin conductores. La mostra és recoberta amb una capa de metall molt prima, i és rastrejada o rastrejada amb electrons que s'envien des d'un canó. Un detector mesura la quantitat d'electrons enviats que emet la zona de la mostra, i és capaç de presentar el resultat en imatges de gran profunditat de camp i aparença nítida i realista, projectades en una pantalla de televisió. La seva resolució és entre 3 i 20 nanòmetres, en funció del microscopi.

Els resultats que produeix fa possible una bona aproximació al món atòmic. Permet obtenir imatges de gran resolució en materials petris, metàl·lics i orgànics. La llum se substitueix per un feix d'electrons, les lents per electroimants i les mostres es fan conductores metal·litzant-ne la superfície. Els electrons secundaris s'associen a un senyal de televisió.

Referències

  1. «Microscopi electrònic de rastreig». Gran Enciclopèdia Catalana. Barcelona: Grup Enciclopèdia Catalana.
  2. Knoll, Max «Aufladepotentiel und Sekundäremission elektronenbestrahlter Körper». Zeitschrift für technische Physik, vol. 16, 1935, pàg. 467–475.
  3. von Ardenne, Manfred «Das Elektronen-Rastermikroskop. Theoretische Grundlagen» (en german). Zeitschrift für Physik, vol. 109, 9–10, 1939, pàg. 553–572. Bibcode: 1938ZPhy..109..553V. DOI: 10.1007/BF01341584.
  4. von Ardenne, Manfred «Das Elektronen-Rastermikroskop. Praktische Ausführung» (en german). Zeitschrift für technische Physik, vol. 19, 1938, pàg. 407–416.

Enllaços externs

A Wikimedia Commons hi ha contingut multimèdia relatiu a: Microscopi electrònic de rastreig

Plantilla:Enllaç AB Plantilla:Link GA