Microscopi electrònic
El microscopi electrònic és un aparell que permet fer observacions de la matèria a nivells molt més petits que la microscòpia òptica. Es diferencia dels microscopis òptics perquè utilitzen electrons en comptes de fotons.
En tractar-se de partícules amb comportament dual, que actuen alhora com a partícula i com a ona, actuen com una ona electromagnètica amb una longitud d'ona molt més petita que la dels fotons, fet que permet obtenir una major resolució de les imatges. El flux primari d'electrons pot controlar-se amb l'ús de lents electromagnètiques, que se situen sobre el canó. El primer microscopi electrònic comercial va ser posat al mercat per Siemens a la dècada del 1930.
Taula de continguts
Fonaments[modifica | modifica el codi]
La microscòpia electrònica es basa en la creació d'un flux d'electrons, els quals són accelerats i canalitzats en un flux. Quan impacten en la mostra, es reflecteixen i es difracten en funció de la composició de la matèria sobre la qual impacten. Arran d'aquest fet, es generen electrons secundaris, els quals donen lloc a les imatges observades.
Tipus de microscopis electrònics[modifica | modifica el codi]
En funció del tipus de comportament dels electrons secundaris es poden classificar en: microscopis electrònics de transmissió (TEM, acrònim anglès de transmision electron microscope) i microscopis electrònics de rastreig (SEM, acrònim anglès de scanning electron microscope).[1]
En els microscopis electrònics de transmissió, els electrons secundaris s'originen per desviació o per desplaçament d'electrons de la mostra travessada, que prèviament ha estat fixada i tenyida amb materials electrodensos. La placa on els electrons secundaris impacten i generen la imatge òptica està sota la mostra.
En els microscopis electrònics de rastreig, els electrons secundaris s'originen per desplaçament d'electrons de la superfície de la mostra. Els receptors es troben situats a la base del canó per sobre de la platina. La imatge generada és tridimensional, talment com una fotografia, podent-se observar diferents aspectes de la mostra segons l'orientació que es doni a la platina, en contraposició al TEM, en què les mostres són sempre làmines fines de material.
En aquest cas darrer cas, es poden treballar a augments similars a la microscòpia òptica, però eliminant-ne els efectes de difracció que provoquen els fotons.
Referències[modifica | modifica el codi]
- ↑ Alberts, B.; Bray, D.; Lewis, J.; Raff, M.; Roberts, K.; Watson, J. D.. Biologia Molecular de La Cèl·lula: Traducció de la segona edició americana. Omega, 1994. ISBN 84-282-0927-8.
Enllaços externs[modifica | modifica el codi]
 |
A Wikimedia Commons hi ha contingut multimèdia relatiu a: Microscopi electrònic |
- «Electron Microscope» (en anglès), 26 de juny de 2011. [Consulta: 21 de maig de 2013].
- «Nanohedron». [Consulta: 4 de novembre de 2013]. «Lloc web dedicat a imatges de microscòpia electrònica i altres imatges d'objectes petits»
- Krumeich, F. «The Electron Microscopy Site» (en anglès). Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, 8 de novembre de 2012 (darrera modificació). [Consulta: 25 de març de 2014].
- http://www.rms.org.uk/em.shtml
- http://www.danilatos.com
- http://www.microanalyst.net/index_e.phtml
- http://www.physics.utoronto.ca/overview/history/microsco
- http://americanhistory.si.edu/archives/d8452.htm
|
